CRISTALLOGRAFIA
cod. 00209

Anno accademico 2009/10
1° anno di corso - Primo semestre
Docente
Settore scientifico disciplinare
Chimica generale e inorganica (CHIM/03)
Field
Attività formative affini o integrative
Tipologia attività formativa
Affine/Integrativa
48 ore
di attività frontali
6 crediti
sede:
insegnamento
in - - -

Obiettivi formativi

<p>introdurre lo studente alla conoscenza delle principali tecniche di diffrazione, con particolare riguardo sia agli aspetti  teorici che sperimentali, ed alla loro applicazione cristallografica per la risoluzione e l' affinamento della struttura cristallina. </p>

Prerequisiti

conoscenze di base sulla simmetria dello stato cristallino

Contenuti dell'insegnamento

<p> Prefazione matematica <br />
Funzione delta di Dirac; funzione reticolo; trasformata di Fourier e sue applicazioni; trasformata di Fourier della funzione reticolo; convoluzione di funzioni; funzioni periodiche come convoluzione di una funzione con una funzione reticolo; trasformata di Fourier di una convoluzione </p>
<p><br />
Diffrazione di raggi X <br />
Scattering di raggi X; scattering Thomson e Compton; interferenza di onde diffuse e diffrazione; diffrazione da un cristallo infinito; diffrazione da un cristallo finito; fattore atomico di scattering; fattore di temperatura; fattore di struttura; simmetria nello spazio reciproco; legge di Friedel; restrizioni di fase; assenze sistematiche; intensità di diffrazione; fattore di Lorentz; polarizzazione; fattore di trasmissione; aspetti dinamici: estinzione primaria e secondaria, scattering anomalo e dispersione anomala, coppie di Bijvoet </p>
<p><br />
Aspetti sperimentali della diffrazione di raggi X <br />
Generazione dei raggi X; sorgenti convenzionali; luce di sincrotrone; diffrattometro di cristallo singolo; diffrazione di polveri; diffrattometro di polveri </p>
<p><br />
Metodi di risoluzione ed affinamento strutturale <br />
Sintesi di Fourier ed il problema della fase in cristallografia; metodi trial and error; funzione di Patterson; simmetria della Patterson; applicazioni della Patterson nella risoluzione strutturale; metodi diretti in cristallografia; statistica di Wilson e fattori di struttura normalizzati; equazione di Sayre, invarianti e seminvarianti di struttura; stima probabilistica dei tripletti invarianti; formula della tangente; procedura di fasatura nei metodi diretti; affinamento strutturale con tecniche di minimi quadrati; affinamento da dati di polveri con tecniche di Rietveld. </p>
<p><br />
Diffrazione di neutroni <br />
Interazione neutrone-materia; scattering elastico ed inelastico; fattore di scattering neutronico; scattering magnetico; sorgenti di neutroni; geometria di diffrazione in sorgenti pulsate; uso della diffrazione neutronica e confronto con la diffrazione di raggi X. </p>
<p><br />
Diffrazione di elettroni <br />
Teoria cinematica della diffrazione di elettroni; fattore di scattering elettronico; cenni sulla teoria dinamica di diffrazione; il microscopio elettronico a trasmissione ed il simultaneo accesso allo spazio reale e reciproco; microscopia elettronica ad alta risoluzione; confronto fra diffrazione elettronica, neutronica e di raggi X. </p>
<p><br />
Esercitazioni pratiche su stumentazione e raccolta ed elaborazione di dati <br />
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Programma esteso

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Bibliografia

<p>Fundamentals of crystallography, C. Giacovazzo, H.L. Monaco, D. Viterbo, F. Scordari, G. Gilli, G. Zanotti, M. Catti, Eited by C. Giacovazzo, International Union of Cristallography, Oxford Science Publication <br />
ISBN 0 19 855578 4 <br />
</p>
<p>appunti delle lezioni</p>

Metodi didattici

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Modalità verifica apprendimento

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Altre informazioni

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